SLA (stereolitograafia) on lisandite tootmisprotsess, mille käigus fokuseeritakse UV-laser fotopolümeervaiguga täidetud anumale. Arvutipõhise tootmise või arvutipõhise disaini (CAM/CAD) tarkvara abil joonistatakse UV-laserit fotopolümeervaigu pinnale eelprogrammeeritud kujundus või kuju. Fotopolümeerid on ultraviolettvalguse suhtes tundlikud, mistõttu vaik fotokeemiliselt tahkestub ja moodustab soovitud 3D-objekti ühe kihi. Seda protsessi korratakse iga kujunduse kihi puhul, kuni 3D-objekt on valmis.
CARMANHAAS pakub kliendile optilist süsteemi, mis sisaldab peamiselt kiiret galvanomeetri skannerit ja F-THETA skaneerimisläätse, kiire laiendajat, peeglit jne.
355nm Galvo skanneripea
| Mudel | PSH14-H | PSH20-H | PSH30-H |
| Vesijahutusega/suletud skaneerimispea | jah | jah | jah |
| Ava (mm) | 14 | 20 | 30 |
| Efektiivne skaneerimisnurk | ±10° | ±10° | ±10° |
| Jälgimisviga | 0,19 ms | 0,28 ms | 0,45 ms |
| Sammu reageerimisaeg (1% täisskaalast) | ≤ 0,4 ms | ≤ 0,6 ms | ≤ 0,9 ms |
| Tüüpiline kiirus | |||
| Positsioneerimine / hüpe | < 15 m/s | < 12 m/s | < 9 m/s |
| Joonte skaneerimine/rasterskaneerimine | < 10 m/s | < 7 m/s | < 4 m/s |
| Tüüpiline vektorskaneerimine | < 4 m/s | < 3 m/s | < 2 m/s |
| Hea kirjutamiskvaliteet | 700 cps | 450 cps | 260 cps |
| Kõrge kirjutamiskvaliteet | 550 cps | 320 cps | 180 cps |
| Täpsus | |||
| Lineaarsus | 99,9% | 99,9% | 99,9% |
| Resolutsioon | ≤ 1 uraad | ≤ 1 uraad | ≤ 1 uraad |
| Korduvus | ≤ 2 uraad | ≤ 2 uraad | ≤ 2 uraad |
| Temperatuuri triiv | |||
| Nihke triiv | ≤ 3 uraad/℃ | ≤ 3 uraad/℃ | ≤ 3 uraad/℃ |
| Üle 8 tunni pikkune pikaajaline nihke triiv (pärast 15-minutilist hoiatust) | ≤ 30 uraad | ≤ 30 uraad | ≤ 30 uraad |
| Töötemperatuuri vahemik | 25 ℃ ± 10 ℃ | 25 ℃ ± 10 ℃ | 25 ℃ ± 10 ℃ |
| Signaaliliides | Analoog: ±10 V Digitaalne: XY2-100 protokoll | Analoog: ±10 V Digitaalne: XY2-100 protokoll | Analoog: ±10 V Digitaalne: XY2-100 protokoll |
| Sisendvõimsuse nõue (alalisvool) | ±15 V @ 4 A maksimaalne RMS | ±15 V @ 4 A maksimaalne RMS | ±15 V @ 4 A maksimaalne RMS |
355 nmF-teeta Objektiives
| Osa kirjeldus | Fookuskaugus (mm) | Skannimisväli (mm) | Maksimaalne sissepääs Pupill (mm) | Töökaugus (mm) | Paigaldus Lõng |
| SL-355-360-580 | 580 | 360x360 | 16 | 660 | M85x1 |
| SL-355-520-750 | 750 | 520x520 | 10 | 824.4 | M85x1 |
| SL-355-610-840-(15CA) | 840 | 610x610 | 15 | 910 | M85x1 |
| SL-355-800-1090-(18CA) | 1090 | 800x800 | 18 | 1193 | M85x1 |
355nm kiire laiendaja
| Osa kirjeldus | Laienemine Suhe | Sisend CA (mm) | Väljundmõõt (mm) | Eluase Läbimõõt (mm) | Eluase Pikkus (mm) | Paigaldus Lõng |
| BE3-355-D30: 84,5-3x-A (M30*1-M43*0,5) | 3X | 10 | 33 | 46 | 84,5 | M30*1–M43*0,5 |
| BE3-355-D33: 84,5-5x-A (M30*1-M43*0,5) | 5X | 10 | 33 | 46 | 84,5 | M30*1–M43*0,5 |
| BE3-355-D33: 80,3-7x-A (M30*1-M43*0,5) | 7X | 10 | 33 | 46 | 80.3 | M30*1–M43*0,5 |
| BE3-355-D30:90-8x-A (M30*1-M43*0,5) | 8X | 10 | 33 | 46 | 90,0 | M30*1–M43*0,5 |
| BE3-355-D30:72-10x-A (M30*1-M43*0,5) | 10 korda | 10 | 33 | 46 | 72,0 | M30*1–M43*0,5 |
355nm peegel
| Osa kirjeldus | Läbimõõt (mm) | Paksus (mm) | Kate |
| 355 Peegel | 30 | 3 | HR@355nm, 45° AOI |
| 355 Peegel | 20 | 5 | HR@355nm, 45° AOI |
| 355 Peegel | 30 | 5 | HR@355nm, 45° AOI |
